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BX-D2258多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国A.S.T.M标准。
2.2多功能数字式四探针测试仪成套组成：由BX-D2258四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。
仪器特点：
1：本测试仪特增设测试结果自动分类功能，z大分类10类。
2：可定制USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。
3：8档位超宽量程，行业领-先。同行一般为五到六档位。
4:仪器小型化、手动/自动一体化。
5:仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟的不稳定。
2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》
1配高耐磨的碳化钨探针探头，如D2258-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如D2258-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。
3配专用箔上涂层探头，如D2258-F02型，也可测试锂电池电池j片等箔上涂层电阻率/方阻。
4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。
2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》
四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。
二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.
平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。
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https://www.chem17.com/st288558/product_37904515.html
多功能数字式四探针测试仪